Difracción de Rayos X (XRD)
Técnica analítica no destructiva esencial para caracterizar la estructura cristalina de materiales sólidos.
El patrón de difracción característico permite determinar tamaños de cristalita y parámetros de red, así como realizar análisis de materiales policristalinos o monocristalinos.
El patrón de difracción característico permite determinar tamaños de cristalita y parámetros de red, así como realizar análisis de materiales policristalinos o monocristalinos.
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