La espectroscopía de fotoelectrones inducidos por rayos-X es una técnica cuantitativa de análisis químico altamente sensible a la superficie, ya que mide la energía cinética de los electrones fotoemitidos, desde los primeros nanómetros, de una superficie que ha sido irradiada con rayos-X. 

El análisis de la superficie de un material mediante XPS permite conocer sus propiedades, por ejemplo: la adherencia, adsorción y desorción, resistencia a la corrosión, biocompatibilidad, mojabilidad e, incluso, propiedades ópticas, que pueden ser modificadas y controladas con el fin de conseguir materiales avanzados.

Esta técnica es clave en el desarrollo tecnológico en áreas como: nanotecnología, semiconductores, baterías, procesos catalíticos, polímeros, biomateriales, entre otros.